质量

芯片失效分析与可靠性检测中心(CNAS实验室)

中心简介

芯朋微电子失效分析与可靠性检测中心,总部(无锡)分部(苏州、上海、青岛、深圳)联动,面积超7000㎡,投资超1.1亿。中心配备百余套考核设备,覆盖环境应力可靠性、电应力可靠性、失效分析、参数测试、芯片快速验证等五大技术功能版块,以全方位助力提升公司产品信赖性与研发能力。中心通过专业实验室CNAS体系认证(ISO/IEC17025),满足车规AEC-Q100/101产品认证的可靠性考核规范。

环境应力可靠性

电应力可靠性

失效分析能力

失效分析流程

聚焦离子束-扫描电子显微系统

DUAL BEAM-FIB/SEM/EDS
领先能力

超景深显微系统

3D-OM
领先能力